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日期:2024-03-21
材料分析,Material Analysis ,MA,TEM,穿透式電子顯微鏡,透射式電子顯微鏡,穿透電鏡,Trasmission Electron Microscope,電子顯微鏡,Electron Microscope,SEM,掃瞄式電子顯微鏡,Scanning Electron Microscope,成份分析,EDX,EDS,電子能量損失分析儀,EELS,掃描穿透式電子顯微鏡分析 ,掃瞄電鏡 ......
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日期:2024-03-21
掃描電子顯微鏡的工作 原理 掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點 掃描 ......
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日期:2024-03-25
場發射型 掃描式電子顯微鏡 最近修改日期:2011.09.23 掃描式電子顯微鏡其成像 原理是利用一束具有 5 ~ 30 kV 之電子束 ......
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日期:2024-03-21
Ruska在其實驗室製作出第一部穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope ... 掃描式電子顯微鏡原理的提出與發展,約與TEM 同時; 在1935年提出掃瞄式....
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日期:2024-03-23
掃描式探針顯微鏡技術. (Scanning Probe microscopy, SPM) ... 掃描穿透式電子顯微鏡. (Scanning Transmission Electron ... 分析及應用. 掃描電子顯微鏡. 原理及應用 ......
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日期:2024-03-26
掃描式電子顯微鏡其成像原理是利用一束具有5~30 kV之電子束掃描試片的表面, 接收表面產生之訊號( ......
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日期:2024-03-23
掃描式電子顯微鏡(SEM)、X光微區分析(EDS)、掃描探針顯微術(STM/AFM)(STM/AFM) ... 微鏡(SEM)、X光微區分析(EDS)、掃描探針顯微術(STM/AFM)的基本原理及應用 許明祺(25%) 高基迪(25%) 蔡嘉慶(25%) 林姿伶(25%) 33--1. 掃描式電子顯微鏡...