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日期:2025-05-10
SEM掃描電子顯微鏡 JSM-6390系列 JSM-6390是一款高性能低價格的掃描電子顯微鏡,解析度可達3.0nm。可按用戶要求定做的操作介面便於用戶直觀操作儀器。Smile Shot 軟體保證得到最佳電子光學參數。...
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日期:2025-05-13
掃描電子顯微鏡 ( scanning electron microscope ),簡稱 掃描電鏡 ( SEM )。是一種利用電子束掃描樣品表面從而獲得樣品信息的 電子顯微鏡 。它能產生樣品表面的高解析度圖像,且圖像呈三維,掃描電子顯微鏡能被用來鑒定樣品的表面結構。 掃描 ......
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日期:2025-05-12
掃描電子顯微鏡的工作 原理 掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點 掃描 ......
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日期:2025-05-14
場發射型 掃描式電子顯微鏡 最近修改日期:2011.09.23 掃描式電子顯微鏡其成像 原理是利用一束具有 5 ~ 30 kV 之電子束 ......
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日期:2025-05-15
宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測,FIB,零件可靠度,系統可靠度,IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 結構觀察 - ......
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日期:2025-05-13
Ruska在其實驗室製作出第一部穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope ... 掃描式電子顯微鏡原理的提出與發展,約與TEM 同時; 在1935年提出掃瞄式....
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日期:2025-05-08
1. 掃描式電子顯微鏡. Scanning Electron Microscope. Scanning Electron Microscope(SEM). 1.前言. SEM 的工作原理和理論構想在1935 年由. 德國Knoll 提出,而 ......
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日期:2025-05-09
掃描式探針顯微鏡技術. (Scanning Probe microscopy, SPM) ... 掃描穿透式電子顯微鏡. (Scanning Transmission Electron ... 分析及應用. 掃描電子顯微鏡. 原理及應用 ......