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日期:2024-04-11
雷射干涉量測法是確立已久的距離量測方法,具有很高的精度。 Renishaw的工具機性能量測系統將遠程干涉儀用於所有量測模式(不只線性模式),其精度穩定的雷射 ......
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日期:2024-04-17
2. 一、觀念介紹. 二、雷射量測基礎概念. 三、雷射干涉儀介紹. 四、雷射干涉儀介紹量測方法. 五、案例-補正方式介紹. 財團法人精密機械研究發展中心 ......
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日期:2024-04-16
雷射掃瞄儀的原理與應用. 班級:自控四甲. 姓名:張志偉. 學號:49612074. 摘要. 近二十年來,雷射精密量測技術得以迅速發展,是由於雷射光具有高度的準直性、方向 ......
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日期:2024-04-16
KEYENCE 台灣提供VK-8700/9700 系列GenerationII; 執行超高精度進階分析的最簡易方法。VK-9700 像光學顯微鏡那樣方便,同時又具備SEM 與粗糙度儀分析功能....
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日期:2024-04-16
目前在工業界對於精密儀器之位置定位控制或誤差量測,多以雷射干涉儀作. 為評估之標準,主要是由於雷射干涉儀穩定的長行程高量測精度可應用在奈米等. 級的位置 ......
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日期:2024-04-14
本實驗介紹雷射影像式量測儀的光學架構及其量測原理,並介紹其中所使用. 感測元件:CCD 感測器之工作原理以及其優點。實驗中我們將練習RS-232C 的程....
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日期:2024-04-17
量測原理. 柱面物鏡將雷射光束擴大為條狀, 隨後雷射在目標物上產生擴散反射。使反射光聚焦在HSE3-CMOS上成像, 透過檢測位置、形狀之改變, 量測出位移或 ......