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        穿透式電子顯微鏡 ( 英語 : Transmission electron microscope ,縮寫 TEM ),簡稱 透射電鏡 ,是把經加速和聚集的 電子 束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產生立體角散射。 散射角 的大小與樣品的密度、厚度相關,因此可以 ...
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        穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy:TEM) 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學物理學系洪連輝教授責任編輯 A.TEM簡介 自1930年代第一台商用電子顯微鏡於英國建立以來,由於影像解析度受限於所供輸電子能量,隨著高壓設備 ...
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    日期:2024-04-18
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    日期:2024-04-20
    發展、成像原理 、儀器設備、分析方法以及實際應用的例子,作完整的介紹。 關鍵字:電子顯微鏡(EM)、高解析度穿透式電子顯微鏡分析(HRTEM ......
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    日期:2024-04-19
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    高解析度穿透式電子顯微鏡分析 引言 電子與樣品之作用 結構—高解析電子顯微學 成分—高解析電子顯微學 前言 顯微鏡是一種用 來將微小物體放 大以便利觀察的 器具。 ......
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    儀器中文名稱: 高解析度穿透式電子顯微鏡。 儀器英文名稱:High Resolution Transmission Electron Microscope ......
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