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![閎康科技股份有限公司 > C-AFM - Materials Analysis Technology Inc.]()
www.ma-tek.comC-AFM從字面上來看，與原子力顯微鏡（atomic force microscope，簡稱 AFM）的原理其實類似，而 AFM 的原理為利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針和原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的解析度。瀏覽：1138 -
![原子力顯微鏡 - 維基百科，自由的百科全書]()
zh.wikipedia.org原子力顯微鏡（atomic force microscope，簡稱AFM），也稱掃描力顯微鏡（scanning force microscope，SFM）是一 ...瀏覽：709
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日期：2025-05-24
2.1 力檢測部分 在 原子力顯微鏡/AFM的系統中，所要檢測的力是原子與原子之間的范德華力。所以在本系統中是使用 ......
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日期：2025-05-23
原子力顯微鏡（atomic force microscope，簡稱AFM），也稱掃描力顯微鏡（scanning
force microscope，SFM）是一種奈米級高分辨的掃描探針顯微鏡，優於光學繞射 ......
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日期：2025-05-23
2009年8月30日 ... 原子力顯微鏡（Atomic Force Micricopy, AFM）（一） 國立彰化師範大學物理所陳建淼
研究生/國立彰化師範大學洪連輝教授責任編輯. A. 原子力顯微鏡 ......
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日期：2025-05-27
Title Nanosurf AFM 原子力顯微鏡原理簡介 Author Liu ming-yeh Last modified by ypu Created Date 10/26/2009 ......
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日期：2025-05-25
原子力显微镜/AFM的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间 ......
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日期：2025-05-25
... 高靈敏度化學分. 子及生物分子的檢測(8-11)，AFM 中的探針懸臂是利 ..... 會感受
到原子力，其來自探針末端原子與表面原子. 間的交互作用力，隨 ..... 掃描探針顯微儀
、光學顯微鏡及掃描電子. 顯微鏡的比較....
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日期：2025-05-28
工作 原理 AFM的基本 原理與STM類似，在 AFM中，使用對微弱力非常敏感的彈性懸臂上的針尖對樣品錶面作光柵式掃 ......
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