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  2024-04-22
  
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  2024-04-28
  
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檢測設備自動光學檢測綜合頁

日期：2024-04-27

應用：AOI設備 / 光學檢測設備 / CCD檢測設備 / 外觀檢測設備 / 客製化檢測設備 / 自動檢測機 / 自動化檢測設備 / 瑕疵檢測設備 / LCD檢測設備 / P to P檢測設備利用機械視覺的方式檢查素玻璃基板的板邊內部與表面上之缺陷，基於高速與...

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粒徑分析儀,系列是採用雷射光散射的原理,符合ISO 13320規範,加上雙鏡頭專利以及PIDS專利技術而生產的最新型 ...

日期：2024-04-23

系列是採用雷射光散射的原理，符合ISO 13320規範，加上雙鏡頭專利以及PIDS專利技術而生產的最新型雷射激光粒徑分析儀。使用弗朗赫夫衍射以及梅氏理論進行結果計算及分析。雙鏡頭專利技術保證所有樣品均能實現一次測量，無須擔心多次分段測試而 ......

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德芮克國際股份有限公司

日期：2024-04-28

拉力機、Malvern、Zetasizer Nano Series、奈米粒徑分析儀、動態光散射PCS、界面電位分析儀、 Mastersizer系列、雷射繞射粒徑分析儀、CGS3、Bohlin 系列、 Goniometer、雷射多角度光散射儀、黏度計、流變儀系列、 Wyatt Technology、DAWN 線上準分子量量 ......

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動態光散射粒徑分析儀及界面電位分析儀Particle Size and Zeta ...

日期：2024-04-27

動態光散射粒徑分析儀及界面電位分析儀. Particle Size and Zeta Potential Analyzer. 儀器設備說明：. 儀器價格：2,000,000 元. 儀器購置年月：2008 年8 月. 廠牌及 ......

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標準電阻校正與量測技術研討會

日期：2024-04-28

標準電阻校正與量測技術研討會講師介紹: 許俊明博士 / 工業技術研究院量測中心電光計量研究室主任 Mr. Takashi.Sannomiya / 日本 Alpha Electronic Co. 經理研討會地點: 工研院中興院區新竹縣竹東鎮中興路 4 段 195 號 51 館 2F (51-2D)...

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