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日期:2024-10-26
Failure Analysis Tung-Bao Lu 6 of 18 Parameter DefectParameter Defect V53C16258 1 Vcc Vss 44 2 I/O 1 I/O 16 43 3 I/O 2 I/O 15 42 4 I/O 3 I/O 14 41 5 I/O 4 I/O 13 40 6 Vcc Vss 39 7 I/O 5 I/O 12 38 8 I/O 6 I/O 11 37 9 I/O 7 I/O 10 36 10 I/O 8 I/O 9 35 13 NC...
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日期:2024-10-31
奈創科技股份有限公司,其他電子零組件相關業,奈創科技股份有限公司 ( Nitronix Nanotechnology Corp. ) 成立於2012年,是一家專注於尖端二維材料領域,集技術研發、量產與應用產品開發為一體的新創公司。公司總部與生產基地位於台灣新北市。 奈創科技利用 ......
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日期:2024-10-31
汎銓科技股份有限公司,其他半導體相關業,汎銓科技成立於2005年7月,設置有完善的實驗室,配備全套分析設備,包括高解析度FE-SEM、FIB、TEM等材料結構分析儀器,OBIRCH、InGaAs等電性故障分析儀器及IC電路修補儀器等先進設備,提供IC design house ......
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日期:2024-10-24
請說明OM SEM TEM 產生影像的原理? 請詳細回答!謝謝! ... OM光學顯微鏡的成像
原理:...
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日期:2024-10-30
實驗六:光學顯微鏡分析法. 班級:四高二A. 組別:第○組. 實驗者:學號: 4980G002
姓名: 吳俊融 *. 基礎儀器分析-實驗六: ......
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日期:2024-10-27
Major Instruments Co., Ltd. - Image formation -. ❖顯微鏡的成像. • 二次放大(物鏡,
目鏡)與中間影像( Intermediate Image )....
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日期:2024-10-26
光學顯微鏡. Optical. Microscopy. 儀器中文名稱:黏度計. 儀器英文名稱:Viscometer.
儀器英文簡稱:OM. 儀器設備說明:....