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半導體科技新聞 - 雙鑲嵌的需求 銅線寬的電阻係數量測 - Semicondutor News, Science and Technology
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日期：2025-05-31
雙鑲嵌的需求 銅線寬的電阻係數 量測 日期：2001/10/4 來源：半導體科技 Timothy Turner, Keithley Instruments Inc, Solon, Ohio 相關的銅線寬電性測量很複雜，不像鋁線寬測量那麼直接了當，瞭解了這一點，就可為雙嵌製程提供一個可行的測量 ......看更多
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