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反射式膜厚量測儀FE-3000 - 大塚科技股份有限公司
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日期：2025-11-08
產品特色. 非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計. 高精度、高再現性量測紫外到近
紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數（n:折射率、k:消光係數）....看更多
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