台積電蔣尚義:14奈米面臨十字路口 EUV、雙重曝光2擇1

台積電蔣尚義:14奈米面臨十字路口 EUV、雙重曝光2擇1

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日期:2024-05-31
台積電研發資深副總蔣尚義表示,2012年初要針對14奈米製程做評估,究竟是要採用極紫外光微影製程(EUV)還是沿用Immersion 193機台,採多重曝光(multiple patterning)方式進行,將會影響2015年量產進度,同時也呼籲設備廠要多加把勁...看更多