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四點探針薄膜電阻量測儀

四點探針薄膜電阻量測儀

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日期：2025-10-17
一、 測試原理：. 運用四點探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊 狀半導體材料的徑. 向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱片電阻）。...看更多

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