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閎康科技股份有限公司 > I-V特性量測

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日期：2025-12-11
極低的漏電流測量(例如光二極體或太陽能電池的暗電流測量)，CMOS，雙極性元件，BiCMOS IC 的半導體參數測量(或者是Spice參數測量)，開 / 短路試驗，C-V 測量，電感測量 ......看更多

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