掃描式電容顯微鏡的相關儀器公司資訊
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AFM-掃描式電容顯微鏡
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日期:2024-05-22
第8章. 掃描式電容顯微鏡(SCM). 1. 原理. 利用接觸式原子力顯微鏡掃描試片,但是卻使用金屬探針,如此可 ......看更多