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扫描电子显微镜- 维基百科，自由的百科全书
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日期：2024-05-20
... electron microscope），简称扫描电镜（SEM）。是一种利用电子束扫描样品表面从而获得样品信息的电子显微镜。它能产生样品表面的高分辨率图像，且图像呈三维，扫描电子显微镜能被用来鉴定样品的表面结构。 .... 參見[编辑]. 穿透式電子顯微鏡 ......看更多
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