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掃描探針顯微術的原理及應用 - 中央研究院物理研究所 Institute of Physics, Academia Sinica
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日期：2025-05-05
8 科儀新知第二十六卷第四期94.2 展出來的技術(1,2)，它在導電材料的表面可達原子解 析；後來，又衍生出原子力顯微術(atomic force microscopy, AFM)(3)，可對導體及非導體表面作奈 米級成像，用途更廣泛。其他SPM 技術絕大部分...看更多
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