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掃描電子顯微鏡SEM基礎知識Scanning Electron Microscope
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日期：2025-04-28
掃描電子顯微鏡的工作原理掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次....看更多
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