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晶圓測試探針卡 - 教育部區域產學中心國立台北科技大學電子報
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日期：2025-06-08
探針卡在晶圓測試的積體電路中擔當一個重要的角色即是作為連接晶圓表面的金屬
... 上傳統探針卡已面臨測試極限，由於傳統懸臂式探針卡(cantilever probe card) ......看更多
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