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最簡單的類比元件測試方法 - 類比、嵌入式處理、半導體公司、德州儀器 - TI.com
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日期：2025-06-27
摘要 本文討論測試模式及其應用。測試模式是一種可測試設計 (Design-for-Test，DFT) 技術，主要用於半導體元件測試。採用測試模式技術的設計可作動態配置，讓一個或多個獨立功能方塊接受測試，不像全功能測試般出現寄生參數效應。...看更多
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