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橢圓偏振技術- 維基百科，自由的百科全書 - Wikipedia
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日期：2025-06-06
橢圓偏振技術（ellipsometry）是一種多功能和強大的光學技術，可用以取得薄膜的介
電性質（ ... 它常被用來鑑定單層或多層堆疊的薄膜厚度，可量測厚度由數埃（
Angstrom）或數奈米到 ... 1 基本原理; 2 實驗細節....看更多
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