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檢視/開啟 - 國立中正大學
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日期:2024-06-01
針卡之探針與晶圓特定銲墊接觸,才能量得電路的電性,進而判. 斷出晶粒的好壞 ...
Keywords: wafer testing; probe card; overdrive; contact resistance; finite element....看更多