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白安鵬--半導體積體電路測試技術部落格: A 半導體積體電路測試概論 第五章 直流參數測試
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日期:2025-10-23
使用並列量測法的前提是,測試機台需要具備並列量測所需的硬體結構。例如PPMU的設計。由圖5-5可知,每一個PPMU,同時供應Vddmax電壓(量IIH時)到所有輸入腳。它與靜態序列量測法不同。讀者可仔細比較它們之間的差異。...看更多
















