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磁滯曲線檢測、磁滯曲線量測、磁滯曲線分析-台北科大奈米中心
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日期：2025-05-21
VSM 之量測技術，於 1959 年開始發展，主要用於巨觀磁特性的量測。一般藉由 VSM 來量測矯頑磁力(Hc)、殘磁厚度積(Mrt)、飽 和磁化量(Ms)、磁滯曲線之方形比(squareness)等性質。VSM 之配置 方式如圖 3-1 所示，將試片固定於測試棒之上，並將 ......看更多
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