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膜厚計的校正 - CTT中燦科技有限公司CHUNG TSANG TECHNOLOGY LTD.
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日期：2025-06-05
膜厚計的校正 Date: 2012-03-01 以日本 KETT 膜厚計而言，校正的原理及方式很簡單。 膜厚計的測頭就像磁鐵一樣，將測頭在待測材料的素材【尚未有任何塗裝或電鍍的裸材】上測量，此 時，膜厚計會感測到此材料的最大磁吸力；當我們將標準校正膜片放在 ......看更多
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