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膜厚量測儀FE-300 - 大塚科技股份有限公司
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日期：2025-05-26
非接觸式膜厚計，分析多層光學薄膜、量測紫外光到近紅外光光譜、薄膜到厚膜的
寬闊量測範圍（10nm～40μm）...看更多
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