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薄膜測厚儀

薄膜測厚儀

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日期：2025-06-27
中文名稱 薄膜測厚儀 英文名稱 Surface Profile 儀器廠牌型號 Dektak II A 購置年限 1984年11月 功能 薄膜厚度，表面圖形量測 放置地點 固態電子系統大樓 1樓 116 實驗室 (TEL：55666) 重要規格 1.最大可測高度65um 2.解析度5A...看更多

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