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衰減式全反射方式量測光學薄膜
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日期:2025-05-26
以 表面電漿的 原理與機制來量測金屬薄膜之厚度,透過此方式來量測金屬薄膜的介電係數與膜厚,除了理論推導 ... 當待測金屬薄膜度在菱鏡時,便可以直接利用 Kretschmann ATR實驗結構量得薄膜的 ......看更多