透過線掃描方式 實現VESA標準光學量測規範 - 學技術 - 新電子科技雜誌

透過線掃描方式 實現VESA標準光學量測規範 - 學技術 - 新電子科技雜誌

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日期:2025-05-26
主要光學量測參數及規範 目前關於LCM的量測規範包括VESA FPDM V2.0(Video Electronics Standards Association Display Metrology Committee)、SPWG(The Standard Panels Working Group)、ISO 13406-2(International Standards Organization)與TCO 05(The ......看更多