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閂鎖效應- 台灣Wiki
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日期：2025-10-06
閂鎖效應是由NMOS的有源區、P襯底、N阱、PMOS的有源區構成的n-p-n-p結構產生的，是CMOS工藝所特有的寄生效應，嚴重會導致電路的失效，甚至燒毀晶元。...看更多
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