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電性量測實作
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日期：2025-06-03
四點探針量測最早是在1954 年被Va ld e s 應用於半導體. 晶片之電阻率的量測上。
探針通常是collinear 的形式，也就是說各探針以等間距排列在一直. 線上，如圖1 所 ......看更多
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