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非侵入光學式血糖量測技術

非侵入光學式血糖量測技術

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日期：2025-05-20
Copyright 2013 ITRI 工業技術研究院 非侵入光學式血糖量測技術的關鍵問題：：專一性專一性(Selectivity) Massachusetts Institute of Technology 擾因多 需長檢測時間 or 光 強度需提升 皮膚厚度 /黑色素 / 血液容積比 /蛋白質...看更多

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