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AFM/SPM(原子力顯微鏡) - 材料表面分析、材料分析 、可靠度測試、失效分析｜EAG分析集團
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日期：2025-10-06
原子力顯微鏡分析方法會提供帶有原子或者近原子-解析度的表面形態圖像，能夠在“埃”等級範圍內鑒別樣本表面的粗糙度。除了提供表面圖像之外，原子力顯微鏡分析方法還會提供特徵尺寸的量化測定，例如步幅高度以及其他尺寸。...看更多
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