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Alpha-SE 薄膜厚度量測儀- 膜厚儀/橢偏儀/真空鍍膜/蝕刻- 先鋒科技
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日期：2025-06-26
Alpha-SE是JAW橢圓儀應用量測中,設計用來快速量測一般薄膜材料的簡易橢圓儀,
提供波長380-900nm,並有65度/70度/75 ......看更多
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