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CTIMES- 積體化探針卡技術介紹:Probe card,測試系統與研發工具

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日期：2025-10-05
Probe Card for IC Testing 探針卡（probe card）是應用在積體電路（IC）尚未封裝前， 對裸晶以探針（probe）做功能測試，篩選 ......看更多

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