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High-Performance/High-Reliability Semiconductor Discrete Devices
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日期：2025-05-23
WWWSKRKSINCCM 7 Test Quantity Standard Endpoints Accept Criteria Dynamic operating life (HTOL) 77/lot JESD22-A108 48 or 168 hours, and 1000 hours 0 fail/77 Preconditioning (PC) 154/lot JESD22-A113 3X reflow 0 fail/154 HAST or unbiased HAST or ......看更多
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