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IL150 QCM 石英晶體微量天平膜厚計 - 膜厚儀/橢偏儀/真空鍍膜/蝕刻 - 先鋒科技
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日期：2025-06-02
石英震盪膜厚計.利用石英壓電晶體微量天平(QCM)量測法,壓電效應使晶體產生振動而獲得初始頻率,接著於鍍膜過程中將晶體和基板一同沉積薄膜.隨著晶體上薄膜質量的增加,振盪 ......看更多
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