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KETT膜厚計

KETT膜厚計

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日期：2025-05-11
日本KETT 掌上型膜厚計 LZ-990 測量方式 電磁／渦電流兩用式 測量對象 磁性金屬上非磁性被膜及非磁性金屬上絕緣被膜 測量範圍 0～2,000μm或0～80.0mils 測量單位 ......看更多

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