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SEM-EDX AES -オージェ電子分光分析器- 最表面元素分析、深さ方向分析
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日期:2025-06-07
FT-IRの原理(フーリエ変換赤外分光光度計) 特徴 ・イメージでデータを収集し各ピクセル単位で スペクトルを得ることが可能 ・高速のデータ収集が可能 測定エリア:透過/反射法 175μm ATR法 35μm...看更多