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X-射 線 分 析 法 - 回首頁
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日期：2024-04-21
(X-射線繞射分析： 將物質研磨成細粉，測定此細粉的X-射線繞射情形，鑑定物質結晶型態 ... 質譜分析法的應用是根據各物種經游離化所產生的正電粒子，有不同的質量分佈。所以，質譜提供的資料可以用在解析化學結構上。 ( 原理： 1)....看更多
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