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cp测试中如何避免probe card烧针? - Cp & Final Test[量产测试] - 半导 ...
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日期：2025-05-02
从成本上考虑的话，从材料上改善是不太现实，那得重新做CARD或换针。6 h' G F4 t
o, _ P2 \ 从程序上改善可的话，可以考虑分流大电流再测试是否 ......看更多
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