積體化探針卡技術介紹: - Probe card,測試系統與研發工具

積體化探針卡技術介紹: - Probe card,測試系統與研發工具

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日期:2025-12-02
Probe Card for IC Testing 探針卡(probe card)是應用在積體電路(IC)尚未封裝前,對裸晶以探針(probe)做功能測試,篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此 ......看更多