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晶圓測試探針卡 - 教育部區域產學中心國立台北科技大學電子報

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日期：2025-12-01
目前市面上傳統探針卡已面臨測試極限，由於傳統懸臂式探針卡(cantilever probe card) 無法在單位面積中增加更多的探針， ......看更多

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