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日期:2024-04-17
精密量測. 光學投影機與工具顯微鏡. (Optical Projector & Microscope). 光學投影機
原理構造使用方法. 工具顯微鏡原理構造 ......
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日期:2024-04-14
反射光譜式膜厚量測原理. 以光譜儀搭配取像探頭,量測光源入射基板及薄膜後的
反射干涉光譜,並透過演算法計算出薄膜 ......
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日期:2024-04-17
基本光學原理. 基本光學. Precision Metrology Lab. AOI Lecture ..... 基本光學原理. C. 三角量測法(triangulation). ( g. ) 影. 像. 探. 頭. 探. 頭. 座. 测. 量. 探. 頭. 光. 源....
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日期:2024-04-15
一般光源:自動視準儀、光學投影機、工具顯微鏡、. 光學尺、測長儀、光學塊規比測儀、電子高度規、和. 光學分度頭等均用光學原理作為量測的基礎。 ➢ 單色光源:光學 ......
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日期:2024-04-15
膜厚量測的原理與類型 a. In situ &即時量測 a. In situ &即時量測 b. 獨立量測. 3. 膜厚量測常見問題 a ... 相位變化,來獲得光學常數與膜厚的資訊。 流程:. 1 起偏器將 ......
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日期:2024-04-18
專論:ATOS 光學量測系統說明. 中華民國103年9月. 35. 量測原理示意圖. 量測方法. 分區掃描自動疊合. ATOS對於因為尺寸太大或形狀複雜而. 無法一次量測的工件, ......