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![科磊行銷長：光學晶圓缺陷檢測仍是主流 - 中時電子報]()
www.chinatimes.com設備大廠美商科磊（KLA Tencor）昨（21）日在新竹舉行科技論壇，並發表新一代 晶圓缺陷檢測系列設備及新技術。科 ...瀏覽：695 -
![漢民微測科技股份有限公司 - Hermes Microvision, Inc.]()
www.hermes-microvision.com... ，使用漢民微測的連續式掃描 檢測系統，可以在相同或更短的時間內捕捉到 缺陷在 晶圓 ... 解決方案，以滿足 ...瀏覽：442
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日期：2024-05-19
在半導體產業中為了獲得好的良率，在晶粒封裝前的晶圓缺陷檢測是一個很. 重要的過程。傳統的晶圓缺陷檢測方法通常是由數十位檢測人員透過電子顯微鏡. 由肉眼去 ......
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日期：2024-05-19
2013年8月22日 - 設備大廠美商科磊（KLA Tencor）昨（21）日在新竹舉行科技論壇，並發表新一代晶圓缺陷檢測系列設備及新技術。科磊行銷長Brian Trafas表示， ......
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日期：2024-05-20
電子束晶圓缺陷檢測設備. Top ... 上班時間:每週一到週五8:30 至17:30 建議使用解晰度1024*768或以上之顯示裝置以獲得最佳瀏覽效果. 通過A+無障礙網頁檢測....
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日期：2024-05-18
半導體設備業者應用材料(Applied Materials)宣佈推出晶圓缺陷檢測UVision系統，該系統具備雷射3D明視野(brightfield)特性，是針對65奈米或更先進的製程所需而 ......
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日期：2024-05-17
2013年8月22日 - 閱讀Yahoo奇摩新聞上的「光學晶圓缺陷檢測仍是主流」。 工商時報【記者涂志豪╱新竹報導】設備大廠美商科磊（KLA Tencor）昨（21）日在新竹舉行 ......
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日期：2024-05-19
晶圓識別. In-Sight 1740 系列晶圓讀碼器，具有緊湊的包裝和集成式的照明，能夠可靠地識別所有 SEMI 編碼。 晶圓檢驗. PatInspect TM 可提供單步校準和缺陷檢測。...
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日期：2024-05-18
1x奈米製程將引燃晶圓缺陷檢測技術新戰火。光學檢測囿於解析度限制，已無法滿足1x奈米晶圓驗證要求，遂使得新一代電子束技術快速嶄露頭角；不過，現階段電子束 ......
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日期：2024-05-15
公司主要提供電子束(e-beam)掃描檢測設備，為晶圓廠檢測晶圓缺陷。缺陷檢測技術包括暗場、明場及電子束，進入90奈米世代後，傳統光學檢測技術(暗場、明場)遭遇 ......
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