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  掃描近場光學顯微鏡snom&afm-witec - 光譜儀分析(螢光/拉曼/IR/光纖) - 先鋒科技
  
  近場光學顯微鏡,拉曼顯微鏡,螢光顯微鏡,原子力顯微鏡,掃描近場光學顯微鏡,掃描式近場光學顯微鏡,witec,snom,Afm,拉曼光譜儀,Alpha300S,alpha500 ... 德國Witec近場光顯顯微鏡以Zeiss顯微鏡為基礎，近場雷射光路為正置共焦顯微鏡加特殊設計的近場物鏡頭，採用 ...
  
  2024-04-26
  
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  近場光學顯微鏡(SNOM)
  
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近場光學顯微鏡的相關儀器公司資訊

近場光學顯微鏡的相關商品

掃描式近場光學顯微鏡

日期：2024-04-21

掃描式近場光學顯微鏡一般的光學顯微鏡及電子顯微鏡屬於遠場分析，因受到光波的繞射限制，其解析度僅有數百奈米左右。但若在近場觀測時，可避免繞射及干涉的產生，故能克服繞射限制，將解析度提升至數十奈米左右。...

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AFM-近場光學顯微鏡

日期：2024-04-23

第 9 章近場光學顯微鏡 (SNOM) 1. 原理使用由熔拉或腐蝕光纖波導所製成之探針，在外表鍍上金屬薄膜已形成末端具有 15nm 至 100nm 直徑尺寸之光學孔徑 (optical aperture) 的近場光學探針，再以可作精密位移與掃描探測之壓電陶瓷材料 (piezo-electrcal ceramics) 配合 ......

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www.pida.org.tw

日期：2024-04-24

由於此網站的設置，我們無法提供該頁面的具體描述。...

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NFI Lab-NIL

日期：2024-04-22

近場光學顯微鏡(SNOM) 目前正在測試近場光學系統。近場光學顯微術的空間解析度接近於電子顯微鏡的高解析度，並兼具傳統光學顯微鏡的優點，屬於非破壞性方法，可量測到真實表面空間，樣品不需繁複製備手續，也不需在真空環境中進行檢驗，而可在 ......

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近場光學顯微儀

日期：2024-04-24

負責人林宇軒先生 03-5779911 分機 606 儀器中文名稱近場光學顯微儀儀器英文名稱 Near Field Optical Microscope 儀器英文簡稱 NSOM 儀器廠牌 DI Corporation 儀器型號 Multimode AFM 採購日期 86 年 3 月 28 日儀器簡介建置在本中心之近場光學顯微儀，乃改裝於商用型掃描 ......

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近場光學顯微鏡Afm&Snom

日期：2024-04-24

先鋒科技專業光電量測儀器代理,產品有光譜儀,雷射加工,太陽光模擬器,太陽能電池檢測,光譜式橢圓偏光儀,科研等級CCD,近場光學顯微鏡,光纖雷射,螢光光譜儀,拉曼光譜儀,NIR近紅外光譜儀,特殊雷射氣體,CCD,輝度/色度計,光譜式LED參數量測儀,LED light bar檢測 ......

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材料世界網 - 文章內容

日期：2024-04-25

奈米光學檢測–高解析度近場光學顯微鏡的應用 2010/7/16 [ 友善列印 | 推薦好友 ] 1986年掃描近場光學顯微鏡(Scanning Near-field Optical Microscopy; SNOM)的發明是第一次利用近場光學技術來突破光學繞射極限，發展至今已有20餘年的歷史，已應用在資料儲存 ......

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設備名稱 Equipment 近場掃描式光學顯微鏡 Near-filed scanning optical microscopy 設備廠商 / 型號 Vendor/Type Veeco Instruments Inc./Aurora-3 功能以高解析度的掃描式探針顯微術 (Scanning Probe Microscopy，SPM) 術的近場掃描式光學顯微鏡 (Near-Field Scanning Optical Microscope, NSOM) Aurora-3 ......

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