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NFI Lab-NIL

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日期：2025-04-23
近場光學顯微鏡(SNOM) 目前正在測試近場光學系統。近場光學顯微術的空間解析度接近於電子顯微鏡的高解析度，並兼具傳統光學顯微鏡的優點，屬於非破壞性方法，可量測到真實表面空間，樣品不需繁複製備手續，也不需在真空環境中進行檢驗，而可在 ......看更多

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