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日期:2024-04-20
2003年3月17日 - 電阻值,以建立片電阻與晶片良率之間的關係。 薄片電阻為一定義之 ... 量測另外兩個探針間之電壓差值,就可以計算出薄片電阻。一般而言,探針之 ......
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日期:2024-04-16
片電阻(Sheet Resistance)是傳導性材料之重要特性之一,尤其是導電薄膜。片電阻 值會受. 到薄膜厚度、晶粒尺寸、合金比例與雜質濃度等因素影響,因此在製程過程 ......
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日期:2024-04-19
規格 型號 型號(Model) MLR-34420 電阻測試範圍 10^-3 Ω ~10^6 Ω 低阻量測模式 直流(D.C.) 量測精度 ±0.4%(...
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日期:2024-04-18
毫歐表(4338B)是一種量測材料低電阻值(10μΩ~100kΩ)的儀器,可適用於電機、
電子、光電、化工、材料等研究領域。毫歐表 ......
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日期:2024-04-16
國立成功大學電機系儀器系統與晶片組. 1. 第七章、高、低、精密阻抗量測. 7-0 簡介.
歐姆計可以輕鬆的量得電阻值,但準確度 ......
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日期:2024-04-19
向和軸向電阻率,測量擴散層的薄層電阻(亦稱片電阻)。換上特製的四點探針測試夾.
具,還可以對金屬導體的低、中值電阻 ......
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日期:2024-04-23
當兩個探針接觸在一起時,電阻為零;分開時,電阻為無窮大。在這兩個數目之間的 ... 四端點量測技術可以用來準確地測量點2 與點3 之間的電阻。 用於高準確度測量 ......
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日期:2024-04-21
2009年11月30日 ... 同時,還要注意到避免外界磁場對三用電表的影響。 量測電阻【需作歸零調整】. 第一
條刻度線是電阻值指示,最左端是無窮大,右端為零,當中刻度不 ......