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![半導體科技.先進封裝與測試雜誌 - 透過全面性元件充電模式(CDM)靜電放電(ESD)失效的分析以提昇良率 - Semicondutor ...]()
ssttpro.acesuppliers.comRoger Peirce, Simco, an ITW Company, Hatfield, PA, United States 在半導體的生產過程中，不僅會妥善的記錄因為靜電效應的影響所造成產品的損壞以及良率的損失，對造成產生靜電荷現象的明確原因也都記之甚詳[1-20]。因為殘留靜電的晶圓、光罩、卡匣盒以及 ...瀏覽：511 -
![掌中放光明 - 除靜電好物大推！BENEX手電筒鑰匙圈 - 生活討論區 - Mobile01]()
www.mobile01.com冬季又來臨，加上寒流發威，各類禦寒的衣物如毛衣、厚外套、圍巾手套等紛紛出籠。但是在保暖的功能下，也潛藏著可怕的危機（恐怖家庭醫學看太多）。沒錯，就是靜電問題，冬天脫下厚外套跟毛衣的時候，是不是常會聽見啪啪的靜電放電 ...瀏覽：919
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日期：2024-06-06
老大 你很會放電唷 我只是回文不會被你電到吧 有看過一篇有關於身體靜電的文章 好像是說跟身體體質有關係 不過我忘了細節 看看有沒有高人來跟妳指點...
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日期：2024-06-06
JEDEC标准定義了三种静电放电模型（ESD Model）以及对应的测试方法，分别是人体模型(靜電放電)（英语：Human Body Model）（Human Body Model，简称HBM）， ......
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日期：2024-06-11
JEDEC標準定義了三種靜電放電模型（ESD Model）以及對應的測試方法，分別是 ... 的是人體模型，以一個100pF的電容和一個1500歐姆的電阻進行靜電放電測試。...
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日期：2024-06-08
靜電放電(ESD)問題有時使得研究者難以捉摸。最初僅認為人體是造成敏感元件靜電損壞的靜電源，所以人體模型（HBM）比其他模型建立得更早。本文討論在模擬因 ......
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日期：2024-06-08
2008年4月13日 - 静电放电（ESD）模型、静电放电扰度(ESD Immunity)试验. 为了定量地研究静电放电问题，确定电子器件或设备的静电放电能力，必须建立ESD模型。...
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日期：2024-06-09
本論文著重於探討以IEC61000-4-2所規範之接觸式靜電放電測試條件下儀器. 內印刷電路板所受到之影響。於論文中提出主要放電路徑之低頻成分數學模型以....
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日期：2024-06-10
2012年4月20日 - 其中針對IC在生產、製造、測試及運輸過程的靜電放電規範，是以美國軍方所制定的人體靜電放電模型最具代表性，又稱之為晶片層級靜電放電測試。...
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