search:x光繞射原理與材料結構分析相關網頁資料

      • www.ch.ntu.edu.tw
        發展、成像原理 、儀器設備、分析方法以及實際應用的例子,作完整的介紹。 關鍵字:電子顯微鏡(EM)、高解析度穿透式電子顯微鏡分析(HRTEM ...
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      • www.ma-tek.com
        物性故障分析,Structure analysis,Physical Faliure Analysis,PFA,非破壞性分析,Non-destructive Analysis,location,光學顯微鏡,Optical Microscope ,OM,X光,X-ray,超音波掃瞄,SAT ,白光干涉儀,Optical Profiler,OP,SAM,Scanning Acoustic Microscope,Scanning ...
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    日期:2024-05-06
    姓名: 楊長謀 職稱: 教授 辦公室電話: 03-5715131 #33850(Lab:33819) 研究專長: -高分子微觀物理性質 -高分子薄膜、表面與介面 -光電高分子(發電與發光材料及元件) -奈米複合材料(奈米碳管共價結合高分子) -電漿材料製程 -微細加工技術(噴墨技術與微高 ......
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    日期:2024-05-08
    第 三 章 晶 體 與 晶 體 結 構 分 析 PART A. 晶體( crystal ) A-1 晶體的特性 1. 結構特性:以單位晶胞( unit cell )為單元,週期性且重覆性地出現相同之結構。 Note : 單位晶胞 → 組成晶體最小之基本規則排列單元。...
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    日期:2024-05-03
    接下來,我們從嚴謹的角度來証明 光槓桿原理 : 由於圖形稍嫌複雜,所以我們先依序在各線條上編上編號 - ......
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    日期:2024-05-05
    ... 用到的數學工具為fourier analysis,可用sin、cos的組合來描述,這個函數可描述在空間中任何週期的行為,此時reciprocal space的電子 ......
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    日期:2024-05-04
    相對位置模型。而粉末繞射所得繞射數據則少得多,僅為一維空間之繞射光譜,處理起來較單晶數據複 雜,但因單晶樣品不易合成或取得,因此粉末繞射仍 常被使用於材料之晶體構造解析之研究上。 3 儀器介紹...
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    日期:2024-05-08
    技術原理 基本上,X-ray成像的方式,是利用穿透過被照射物體的X-ray,經過映像裝置而形成可見影像,主要用來觀察IC中含金屬材質或結構是否有異常,舉凡 打線,銀膠,花架等。 機台種類 閎康科技目前擁有新型X-ray機台:Fen Focus FXS-160.40 TIGER X ......
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    日期:2024-05-08
    本週熱門 2014年你不可錯過的觀星盛事 比爾定律(Beer’s Law)與吸收度(Absorbance) 細胞週期的調控(Cell Cycle) 準確度(Accuracy)和精確度(Precision) X-光繞射(X-ray diffraction)與布拉格定律(Bragg’s Law) 形式電荷(Formal Charge)...
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    日期:2024-05-09
    3> 為什麼綠光LED的效率如此低落?這是因為載子注入程序出了問題,歐傑(Auger)損失過高,還是內部電場過強,或是單純的材料品質問題呢?Osram公司的Matthias Peter提出了以上的問題。 以InGaN做為發光層的LED是目前LED市場上最關鍵的 ......