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信號完整性分析 - 南港IC設計育成中心
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日期：2025-04-28
2 留下空洞（ 電壓衰退（IR Drop） 在大電流持續通過金屬導線時，導 電壓衰退也是製程演進所產生的 結果，由於晶片內的導線寬度越來越 窄，根據電阻定義，導線截面積與電阻 大小成反比，所以單位導線的電阻值也...看更多
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