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半導體科技新聞 - IC測試之發展趨勢 - Semicondutor News, Science and Technology
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日期：2024-05-01
最早期的(約10年前)有四至五家公司(都在美國)在研發薄膜針測卡(Membrane Probe Card)以便取代傳統的探針卡(Needle Probe Card) 。10幾年前那時是用來測剛剛研發成功之GaAs Technology IC Chip，因薄膜針測卡可測高頻之故。...看更多
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